名片曝光使用说明

步骤1:创建名片

微信扫描名片二维码,进入虎易名片小程序,使用微信授权登录并创建您的名片。

步骤2:投放名片

创建名片成功后,将投放名片至该产品“同类优质商家”栏目下,即开启名片曝光服务,服务费用为:1虎币/天。(虎币充值比率:1虎币=1.00人民币)

关于曝光服务

名片曝光只限于使用免费模板的企业产品详细页下,因此当企业使用收费模板时,曝光服务将自动失效,并停止扣除服务费。

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半导体老化筛选设备 不仅做动态老化,还具备DUT(受测器件:Device Under Test)的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视,防止筛选漏网,主要试验对象为SDRAM,SRAM等内存类,CPU,ASIC,系统LSI等逻辑装置,也对应各种MOS形的IC。 一种半导体老化筛选设备和基于该设备的老化筛选方法,在设备的控制待测器件发光的功率控制电路中采用数字电位器,并通过单片机对数字电位器的自动调控,然后将结果输入单片机和计算机,实现了半导体老化筛选过程的自动化,为工业化大批量生产后的筛选分级提供了基础。 在老化期间,IC是在较高电气条件下和125℃的典型温度下经过48/96/160或240小時等的试验,在老化期間,试验时限视失效机理而定.这里介绍3种老化方法:老稳态老化(SSBI)、静态老化(SBI)、动态老化(DBI)。由于SSBI和DBI对于复杂器件来说是无效的,因为外部偏压和负载不可能給内部施加足夠的压力。DBI 可把有源信号施加到IC上,然后扩展到内部节上,所以大规模IC通常使用动态老化 DBI 。 按产品的级别,老化亦可分为3类:封装级老化(PLBI)、芯片级老化(DLBI)和晶圆级老化(WLBI)。晶圆级老化的主要好处是终产品的性,当在普通老化中失效的不见必須报废或废弃時,在它们已经通过许多过程步骤之后,全部产品费用就可能增加,因此可能有效降低成本。WLBI 的另一個优点是高成品率和缺陷数据能快速反馈。这样就使生产过程能更主动地排除故障。帕特公司同時提供晶圆级老化设备,欢迎垂询。
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“供应半导体老化筛选设备”信息由发布人自行提供,其真实性、合法性由发布人负责。交易汇款需谨慎,请注意调查核实。